陶瓷粉末粒度分析儀是控制粉體質(zhì)量的關(guān)鍵設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、結(jié)構(gòu)陶瓷、生物材料等領(lǐng)域。然而，因陶瓷粉體易團(tuán)聚、折射率高、分散困難等特點(diǎn)，使用中常出現(xiàn)結(jié)果重復(fù)性差、峰形異常或數(shù)據(jù)漂移等問(wèn)題。科學(xué)識(shí)別并針對(duì)性處理陶瓷粉末粒度分析儀出現(xiàn)的故障，是確保測(cè)試數(shù)據(jù)真實(shí)可靠的核心。
一、粒度結(jié)果重復(fù)性差
原因：樣品分散不充分、超聲參數(shù)不當(dāng)、取樣不均或介質(zhì)選擇錯(cuò)誤。
解決方法：
優(yōu)化分散方案：對(duì)硬團(tuán)聚陶瓷粉（如Al2O3、ZrO2），采用高功率超聲（≥300W）配合表面活性劑（如六偏磷酸鈉）；
固定操作流程：每次取樣量、加樣速度、攪拌時(shí)間保持一致；
驗(yàn)證取樣代表性：使用旋轉(zhuǎn)分樣器避免人為偏析。
二、出現(xiàn)異常大顆粒峰（假粗端）
原因：氣泡干擾、未溶解絮凝物、儀器窗口污染或進(jìn)樣系統(tǒng)殘留。
解決方法：
測(cè)試前對(duì)分散液脫氣處理（靜置或抽真空）；
檢查分散劑是否溶解，避免形成膠團(tuán)；
每次測(cè)試后清洗樣品池、管路及鏡頭，用無(wú)水乙醇擦拭光學(xué)窗口；
運(yùn)行空白背景，確認(rèn)無(wú)雜質(zhì)信號(hào)。
三、D50值持續(xù)偏小或偏大
原因：折射率/吸收率參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤、濃度超出最佳范圍、粉體未潤(rùn)濕。
解決方法：
準(zhǔn)確輸入光學(xué)參數(shù)：如氧化鋁n=1.76、k=0.1，可查閱文獻(xiàn)或通過(guò)反演優(yōu)化；
控制遮光度在10%–20%（激光法適宜區(qū)間），過(guò)高導(dǎo)致多重散射，過(guò)低信噪比差；
預(yù)潤(rùn)濕粉體：先加少量分散劑調(diào)成糊狀，再稀釋，避免“干粉入水”結(jié)團(tuán)。
四、測(cè)試曲線波動(dòng)劇烈或無(wú)法收斂
多因分散體系不穩(wěn)定：
延長(zhǎng)攪拌時(shí)間，確保顆粒懸浮均勻；
對(duì)高密度陶瓷粉（如SiC），提高攪拌轉(zhuǎn)速防止沉降；
檢查泵管是否老化漏液，影響循環(huán)穩(wěn)定性。
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